Badania materiałów i struktur

Badania materiałów i struktur

Oferta

Skaningowa Mikroskopia Elektronowa SEM

  • Posiadana przez nas aparatura ( 2 elektronowe mikroskopy skaningowe z wyspecjalizowanymi detektorami i systemami ) umożliwia ogląd powierzchni elementów dowolnych materiałów stałych np. metale, tworzywa, szkła.
  • Oferujemy ocenę stanu powierzchni, uszkodzeń, defektów, nierówności z dokładnością do kilku nanometrów na próbkach o rozmiarach do ok. 100x100mm.
  • Wykonujemy obrazy mikroskopowe charakteryzujące zmiany składu chemicznego na powierzchni np. obecność wtrąceń, ultra cienkich warstw, reprezentowane w skali szarości.
  • Posiadana przez nas aparatura umożliwia określenie składu chemicznego próbek stałych, struktury lub odmian alotropowych materiałów, z uwzględnieniem rozkładu pierwiastków na powierzchni jako mapy lub wzdłuż linii. W każdej z tych opcji możliwa jest analiza jakościowa i ilościowa.
  • Wykonujemy ujawnianie struktury na mikroprzekrojach próbek wykonanych za pomocą trawienia jonowego do głębokości kilkunastu mikrometrów oraz preparatykę próbek do mikroskopii transmisyjnej.
  • Realizujemy podstawową preparatykę próbek do badań.



Kontakt: komercjalizacja@itme.edu.pl

Rentgenowska dyfraktometria proszkowa (XRD)
Oferowane przez nas metody badań rentgenowskich:

• Jakościowa i ilościowa analiza fazowa materiałów polikrystalicznych;
• Udokładnianie parametrów strukturalnych metodą Rietvelda;
• Ocena wielkości krystalitów, mikronaprężeń i naprężeń szczątkowych;
• Analiza tekstur metodą pomiaru figur biegunowych;
• Pomiary struktury in-situ w wysokiej temperaturze do 1100oC;

Spektrometria Mas Jonów Wtórnych SIMS

SIMS to bardzo czuła metoda, szczególnie przydatna do analizy domieszek i zanieczyszczeń. Dla większości pierwiastków i materiałów limity detekcji mieszczą się w przedziale 1015-1016 atms/cm3, a w niektórych przypadkach nawet 1012 atms/cm3. Rozdzielczość wgłębna urządzenia jest subnanometrowa co jest bardzo pomocne w charakteryzacji ultra cienkich warstw, takich jak: złącza tunelowe, supersieci, materiały 2D jak np. grafen lub azotek boru.

Główne zastosowania:
• Skład pierwiastkowy i/lub izotopowy próbki
• Analiza zanieczyszczeń
• Rozkład domieszek
• Opis ilościowy dyfuzji
• Struktura i stabilność warstw
• Analiza wad urządzeń

Rentgenowska spektrometria fotoelektronów XPS

Próbka naświetlana jest promieniowaniem rentgenowskim, co prowadzi do emisji elektronów. Mierzona jest ich liczba oraz energia kinetyczna, pozwala to wyznaczyć skład pierwiastkowy oraz stan chemiczny i elektroniczny próbki.

Monochromatyczne źródło 500 mm Rowland Al Kα X-ray:
• zapewnia wysoką czułość
• zapewnia bardzo wysoką rozdzielczość energetyczną
• umożliwia detekcję z pierwiastków z limitem rzędu 1018 atms/cm3
• umożliwia jednoznaczną identyfikację przesunięć chemicznych

Urządzenie wyposażono w jonowe działo argonowe pozwalające na profilowanie wgłębne oraz czyszczenie próbki.

Ta strona stosuje ciasteczka (cookies) w celach statystycznych.
Jeśli nie chcesz, aby pliki cookies były zapisywane na Twoim urządzeniu, zmień ustawienia przeglądarki.
Link do Polityki Prywatności